半導体・電子部品の調達はおまかせください!アジア地域は3時間以内。欧米地域は翌日午前中までに見積回答をコミット 新緊急調達

  • 検査能力が大幅に向上

    X線、マイクロスコープに加え、IC開封器・蛍光X線・ICテスターを自社で保有し、偽造品検査・経年変化に対する検査能力が大幅にアップしました。
  • 全製品1年間 製品保証

    全製品を仕入先ランクに関わらず、当社で1年間保証します。※製品代金を上限とする保証となります。
  • 回答スピードが大幅アップ
    引き合いを頂いてから、日本・アジア地域に在庫があれば3時間。欧米地域に在庫があれば翌日午前中の回答をコミットします。※時間は営業日、営業時間(9:00~17:30)に準じて回答します。
  • とことん深くまで調査
    本社の緊急調達・EOLの調達に特化した専属チームによる対応。15年の経験に裏付けられる豊富なノウハウにより徹底的に調査します。
  • 全製品1年間製品保証 調査能力が大幅向上
    全製品を製品代金を上限に当社にて1年間の製品保証。当社【クオリティラボ】にて徹底的に検査を実施。
  • 海外現地法人との連携
    コアスタッフ香港とコアスタッフ米国との連携により、アジア・欧米地域の有力商社の保有在庫の情報がリアルタイムで確認。新鮮な在庫情報で短時間で確実な調査が可能に。

生まれ変わった「新緊急調達」のご利用方法

お問い合わせ
お問い合わせ先:rfq@corestaff.co.jp
※当社担当者をCCに入れて下さい。担当者不明の場合は不要です。

1次回答
  • 日本・アジア地域で見つかった場合は、3時間以内に見積回答
  • 欧米地域の場合はその旨を回答します。翌日の午前中までお待ちください。

最終回答
  • 欧米地域からの見積もりでの最終回答を行います。
  • 条件に合えばご発注を頂ければと思います。

ご依頼時の必要項目

型名 メーカー 希望単価 必要納期 RoHS対応 現行品か中止品
仕入先ランクをどこまで探すか
 Aランク:正規代理店
 Bランク:弊社認定の通常ルート
 Cランク:取引実績が無い仕入先
代替えの可否 備考

Aランク:正規代理店

A-1
(国内)
正規代理店、2次店もしくは「ひとつから」在庫。メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が可能。(メーカー事情により対応不可の場合あり)
A-1
(海外)
海外の正規代理店。メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が可能だが、メーカーにより一部対応不可の場合がある。
A-2
正規代理店か2次店。メーカーによる不良解析、有害物質等のドキュメント対応が不可
A-3
価格設定が高めな2次店。正規品ルートによる自社在庫を保有している
A-4
当社自社在庫。365日の製品保証と第3者機関による不良解析の対応が可能

Bランク:弊社認定の通常ルート

B-1
正規代理店ではない自社在庫の仕入先。規定の取引実績がある認定仕入先
B-2
在庫情報を持つ仕入先。規定の取引実績がある認定仕入先

Cランク:取引実績が無い仕入先

C-1
自社在庫の仕入先。取引実績がないか、規定の取引回数に満たない
C-2
在庫情報を持つ仕入先。取引実績がないか、規定の取引回数に満たない

流通在庫(B/Cランク品)の品質保証について

当社の保証について

保証内容
基本取引契約を結んでいるお客様は、契約内容通りの保証を行います。契約を結んでいないお客様は、製品代金を上限に1年間の製品保証を行います。

不具合時の対応
当社から納入した製品が不具合だった場合、「不具合解析」を提携検査機関で当社の費用負担によって行いレポートを提出いたします。

B/Cランク品の入荷までの流れ

良品サンプルご提供のお願い
精度の高い検査を行うために、お客様がお持ちの「良品サンプル」のご用意を是非お願い致します。
使用済みのものでも問題ありません。

開封検査に関して
開封検査を行う場合は以下の2点に注意する必要があります。

1)
開封検査には開封条件出しサンプルが4pcs(最低2pcs)必要になるため、調達時に事前に購入数を考慮する必要があります。(購入時に別途用意が必要)
2)
良品比較用のサンプルが1pc必要になります。(お客様でご用意)

検査報告書に関して
Cランク品に関してはお客様のご要望に応じて「検査報告書」を添付しております。
(カスタム品質保証契約が別途必要となります。)

当社【クオリティラボ】の保有検査設備

  • 保有設備1)マイクロスコープ
    1000倍まで対応。チップ表面観察まで対応。
    偽造品や経年変化のチェック
  • 保有設備2)透過型X線
    テーピング製品がトップテープを剥がさずにX線内にセット可能な為、全数自動検査可能
  • 保有設備3)IC開封器
    薬液を使用したウェットエッチング方式によりパッケージをとかし、IC内部の観察が可能
  • 保有設備4)恒温槽
    ベーキング対応可能
  • 保有設備5)半田槽
    半田槽を活用して半導体の濡れ性の確認を行います。
  • 保有設備6)ICテスター
    ICのファンクション検査が可能。I-V特性の測定も可能
  • 保有設備7)蛍光X線
    半導体・電子部品の含有物質を調査することで真贋判定に活用